ExpertIP – 株式会社ジーダット https://www.jedat.co.jp Mon, 17 Nov 2025 02:20:22 +0000 ja hourly 1 https://www.jedat.co.jp/wp-content/uploads/2022/05/cropped-super-big-icon-32x32.jpg ExpertIP – 株式会社ジーダット https://www.jedat.co.jp 32 32 画素・イメージセンサ・タッチパネル設計 https://www.jedat.co.jp/products/fpd_design/pixel_sensor/ Sat, 11 Dec 2021 10:01:57 +0000 https://www.jedat.co.jp/?page_id=5097 画素・イメージセンサ・タッチパネル設計

液晶画素・有機EL画素・μLED画素・メッシュセンサ・有機EL照明・光学積層フィルムの最適設計⽀援

  • 実構造を入力して解析可能
  • 試作の大幅削減が可能な２次元、３次元の詳細解析
  • 不良解析、マスク出し前検証などにも豊富な実績
  • 研究開発期間やコストの圧縮が可能

3D LCDシミュレータ

ExpertLCD

■最強の3D解析ソリューション

  • 設計データから最終光学特性を予測、試作費/開発期間を削減
  • VRヘッドセット用超小型～大型サイネージパネルまでの安定ご運用実績
  • 液晶/光学素子/BM/バックライトを含む全体モデルを一括解析
  • 応答特性を再現 (ミスアライメントや動画起因の準安定表示不良を再現)
  • 液晶配向を含めた構造内の回折/干渉/多重反射を厳密解析

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多次元FDTDシミュレータ

ExpertOLED

■積層薄膜厳密解析と厚膜基板解析の両立

  • 有機EL照明/有機ELディスプレイ設計用（取り出し光強度の色・角度依存性解析）
  • 薄膜層と厚膜基板上のレンズを一括解析
    FDTDで薄膜内部の電磁界を厳密解析（回折・干渉・散乱解析）
    光線追跡で厚膜基板やレンズを高速解析
  • 可視光を通しづらい薄膜金属の高精度モデルをサポート
  • 二軸異方性材料をサポート
  • 実設計に使いやすいモデリング機能
    プロセスエミュレーション的な3Dモデリング
    断面形状の自由編集、実測値インポート可能
  • 任意領域にディテクタを設定可能
  • 多彩な結果表示
    電磁場の時間的変化の確認
    強度分布/角度特性/モード光割合の表示

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モアレ予測解析

ExpertMoire

■ワイヤメッシュの角度・ピッチ、画素形状によるモアレ出現を正確に予測

  • 目視イメージと同じモアレパターンを生成
  • 表示パネル・タッチパネルの実構造を考慮
  • 高速計算用に最適化された計算エンジン

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メタルメッシュセンサ設計用モアレシミュレータ

ExpertMOIRE

■メタルメッシュによる「モアレ見え」最小化を支援

  • モアレ見えを数値化
  • 強度変化をマップで表示
  • 試作前に形状検討範囲を絞り込み
  • 設計の論理的根拠を示せ、クライアントへの訴求力向上直観的なGUIとビューア

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CMOSイメージセンサ向けハイブリッド光学シミュレータ

ExpertCIS

■世界初の電磁界/3DFDTD/光線追跡のハイブリッド解析

  • 直観的なGUIとビューア
  • 高精度・自動材料屈折率フィッティング
  • 高精度な斜め入射光の全波長領域計算（CRA50度以上対応）
  • 複雑な3D構造の生成
    サブミクロン画素の高精度シミュレーション
    AFMデータからの構造生成

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電子デバイス向けRC抽出ツール

ExpertRC

■実構造内の容量と抵抗を抽出

  • ２軸異方材料の容量も抽出
  • コンタクトを含む多層配線の全体抵抗を抽出

■GDSIIを読み込み境界条件は自動設定

  • 縦横比が極端な構造でも安定したメッシュ自動生成

■プロセス工程に基づき３次元構造を生成

  • Structure機能で各材料の形状・厚みを確認
  • 材料情報は単一のファイルで統合的に管理

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GDS抽出/寸法測定

ExpertIP

■GDS情報の抽出／パネル内パターン寸法の測定

  • 画像のマージ
    画素を撮影した複数の拡大写真のパターンを検出し自動的に位置をそろえることが可能
  • GDSの抽出
    写真内の色の違いからパターンの境界を検出
    イメージ上で画素サイズを定義し、高精度なGDSデータを出力
  • CD (Critical Dimension)
    生成されたGDS上のメタル線の幅や任意パターンの寸法の測定が可能
    生成されたGDSから選択された図形の面積を計算
    実寸法を用いて実画素の特性を正確にシミュレーションすることが可能

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    株式会社ジーダット

    　　　　　　　　　　　GDS情報の抽出／パネル内パターン寸法の測定

    ExpertIP

    作業時間を飛躍的に短縮
    ディスプレイにおける最先端リソグラフィーへの挑戦

    Features

    画像処理

    ExpertIPは、液晶ディスプレイや有機ELディスプレイなどのフラットパネルディスプレイ内の画素写真からGDS情報を抽出します。

    ■画像のマージ

    良好なGDSデータを得るには顕微鏡で何枚もの高画質写真を撮って一つの画素写真にまとめます。
    ExpertIPは写真のパターンを検出し自動的に接合します。

    ■GDSの抽出

    ExpertIPは写真内の色の違いからパターンの境界を検出します。
    イメージ上で画素サイズを定義すると、高精度なGDSデータを出力します。

    ■CD ( Critical Dimension )

    メタル線の限界寸法はディスプレイの電気的・光学的特性に影響を及ぼします。
    抽出されたGDS上のメタル線の幅や任意パターンの寸法を測ることができます。
    また、実寸法を用いて実画素の特性を正確にシミュレーションすることが可能です。

    ■開口率

    ディスプレイ技術において、開口率は画素の明るさに明確に影響を及ぼすため、大変重要です。
    ExpertIPは、生成されたGDSから選択された図形の面積を計算します。
    どんな形状の画素の開口率も容易に素早く知ることができます。

    ■システム要求

    Hardware：WindowsPC
    OS：　　　 Windows 8.1,10,11 Windows Server 2012, 2012R2(64bit)
    CPU：　　 3.0GHz以上　12コア以上推奨
    Memory： 16GB以上

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