設計の早い段階からEM/IR Drop問題箇所の特定と対策が可能
製造前にレイアウトの信頼性に影響を与える要因を検証可能
検証工数の大幅な短縮と設計品質の向上を実現
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PowerVolt の主な特長 |
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高速2Dソルバを内蔵した高精度インタラクティブ検証 |
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LVS/LPEが不要で、フロアプラン ～ 最終検証のあらゆる設計段階で任意に検証可能 |
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DRC/LVSで検出できない配線経路異常、配線幅不足、ビア数不足などの検証が可能 |
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PoweVoltの主な用途 |
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パワーデバイス解析 |
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電気特性の算出
Ron (オン抵抗)
VOH/VOL (出力電圧)
IOH/IOL (出力電流) |
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電流集中箇所の検出 |
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配線方式、PAD(ポンディング)位置の検討 |
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逆起電力等による基盤電流解析 |
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電源配線解析 |
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CHIPレベルでの電源線の電圧降下、電流集中解析 |
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配線幅、VIA数不足（DRC/LVSで検証できないエラー)の検出 |
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アナログブロックの解析 |
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電圧降下による動作不良の解析 |
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電流集中箇所の検出 |
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PoweVoltの主な機能 |
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EM/IR Drop解析 |
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電位、電流密度、電力密度算出 |
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電位分布、電流分布、電流密度分布、電力密度分布の表示 |
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配線、基板、デバイスの自動認識 |
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テキストによる印加電圧・電流の指定 |
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多様なデバイス電流（抵抗）算出定義
① SPICEモデル
② ルックアップテーブルモデル
③ 計算式
④ 電流値 |
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コンタクト、ビア電流密度分布表示 |
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解析温度の指定 |
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解析対象領域や解析対象配線の指定 |
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サポートプラットフォーム |
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| Windows XP （32bit）, Windows Vista （32bit）, Windows 7 （32bit, 64bit） |
| Red Hat Enterprise Linux 3/4/5 （64bit） |
| SUSE Linux 10 （64bit） |
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